InPBi薄膜材料的结构性能和光学性能研究
DOI:
作者:
作者单位:

上海理工大学 理学院 物理系,200093

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

O484

基金项目:

国家自然基金青年项目(61904106),上海市扬帆人才计划(19YF1435300)


Structural and Optical Property Study for InPBi Thin Films
Author:
Affiliation:

Department of Physics,University of Shanghai for Science and Technology,200093

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    室温下,InPBi表现出强而宽的光致发光光谱,其宽光谱特性来自于材料中的PIn反位深能级和与Bi相关的深能级。该特性使得InPBi有希望应用于制备光学相干层析扫描(医学成像技术)系统中的超辐射光源。本文利用透射电子显微镜和三维原子探针研究了InPBi薄膜材料的结构性能,发现Bi原子在InPBi薄膜中的分布极不均匀,在InPBi/InP界面出现了Bi的富集区,从该区域沿[001]方向出现了Bi的纳米面,此纳米面位于(110)平面上。这种Bi原子的富集分布阻碍了PIn反位参与的载流子复合过程,对InPBi的光学性能有显著的影响。本研究为制造光学相干层析扫描系统的超辐射发光二极管提供了一定的理论基础。

    Abstract:

    InPBi exhibits a strong and broad photoluminescence spectrum at room temperature. The broad spectrum originates from the PIn antisite and Bi-related deep levels. This optical property makes InPBi promising for super-luminescent light source for optical coherence tomography system (medical imaging technology). TEM and APT are used to discuss the structural property of InPBi thin films. The results show that Bi atoms distributes quite non-uniform in InPBi thin films. There is a Bi-rich region at the InPBi/InP interface. Besides, there is a Bi-rich nano-wall in (110) face. This distribution of Bi atoms inhabit the carrier recombination processes in relation to PIn antisite deep level. This work provides references for fabricating super-luminescent diodes applied in optical coherence tomography system.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:2022-03-06
  • 最后修改日期:2022-03-06
  • 录用日期:2022-03-14
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:

漂浮通知

①《半导体光电》新近入编《中文核心期刊要目总览》2023年版(即第10版),这是本刊自1992年以来连续第10次被《中文核心期刊要目总览》收录。
②目前,《半导体光电》已入编四个最新版高质量科技期刊分级目录,它们分别是中国电子学会《电子技术、通信技术领域高质量科技期刊分级目录》(T3)、中国图象图形学学会《图像图形领域高质量科技期刊分级目录》(T3)、中国电工技术学会《电气工程领域高质量科技期刊分级目录》(T3)和中国照明学会《照明领域高质量科技期刊分级目录》(T2)。
③关于用户登录弱密码必须强制调整的说明
④《半导体光电》微信公众号“半导体光电期刊”已开通,欢迎关注