基于数字电位器AD7376的CCD成像调试系统
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

重庆光电技术研究所;重庆航天职业技术学院;

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

TN386.5

基金项目:


CCD Debugging System Based on Digital Potentiometer AD7376
Author:
Affiliation:

CAI Xiaolei1,QIU Xiuling2,ZHANG Na1(1.Chongqing Optoelectronics Research Institute,Chongqing 400060,CHN,2.Chongqing Aerospace College of Vocational Technology,Chongqing 400021,CHN)

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    通过分析数字电位器AD7376的工作原理,介绍了数字电位器在CCD成像调试系统中的具体应用,利用数字电位器AD7376的程控特性和单片机AT89C2051的控制能力来完成调试系统中对CCD驱动脉冲电平和偏置电平的调节。详细阐述了其硬件电路及软件编程。该系统在CCD芯片测试工作中得到实际应用。

    Abstract:

    Based on analyzing the working principles of digital potentiometer AD7376,the applications of digital potentiometers in CCD debugging system are introduced.The program control characteristic of the digital potentiometer AD7376 and the control ability of microcontroller AT89C2051 are used to adjust the driving pulse level and bias level of CCD.Hardware circuit and software programming of this system are elaborated.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

蔡晓蕾,邱秀玲,张娜.基于数字电位器AD7376的CCD成像调试系统[J].半导体光电,2011,32(2). CAI Xiaolei, QIU Xiuling, ZHANG Na. CCD Debugging System Based on Digital Potentiometer AD7376[J].,2011,32(2).

复制
分享
相关视频

文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期: 2012-02-09
  • 出版日期:
文章二维码

漂浮通知

①关于用户登录弱密码必须强制调整的说明
②《半导体光电》微信公众号“半导体光电期刊”已开通,欢迎关注