一种内线转移可见光CCD光电特性模拟分析
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Simulation of Photoelectric Characteristics of Interline Transfer CCD
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    摘要:

    运用半导体二维数值模拟软件sentaurus TCAD, 对内线转移可见光CCD积分过程、读出过程光敏区域电势变化规律进行了数值模拟研究, 建立了sentaurus TCAD软件模拟内线转移CCD器件的仿真模型; 对影响器件电荷容量、抗晕性能的纵向抗晕p阱浓度、结深进行了模拟分析, 得出p阱浓度应控制在(2.5~5.5)×1016cm-3, 结深应控制在5.5~6.5μm的结论。

    Abstract:

    By using two-dimensional simulation software sentaurus TCAD, simulations were performed on the variable regularities of the potential of the photosensitive area for interline transfer charge coupled device(IT-CCD), and the simulation model was established. Based on simulation analysis on the charge capacity, the p-well concentration and junction depth, it is concluded that the optimal parameters of p-well concentration and depth should be controlled as 2.5×1016~5.5×1016cm-3 and 5.5~6.5μm, respectively.

    参考文献
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    引证文献
引用本文

杨洪,李立,吕玉冰,白雪平.一种内线转移可见光CCD光电特性模拟分析[J].半导体光电,2014,35(5):773-776,781. Simulation of Photoelectric Characteristics of Interline Transfer CCD[J].,2014,35(5):773-776,781.

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  • 收稿日期:2013-12-26
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  • 在线发布日期: 2014-11-05
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